檢測(cè)與測(cè)試
熱性能測(cè)試
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主要技術(shù)指標(biāo)：熔點(diǎn)測(cè)試范圍：50-350℃；測(cè)量誤差：< 0.5℃；最小溫度讀數(shù)：0.1℃；...查看更多 -
主要技術(shù)指標(biāo)：DEA主機(jī)可容納7個(gè)DEA數(shù)據(jù)通道（溫度測(cè)量和數(shù)據(jù)采集模塊），可擴(kuò)展至14個(gè)...查看更多 -
主要技術(shù)指標(biāo)：溫度范圍：室溫-400℃；動(dòng)態(tài)位移范圍：1-100um；位移分辨：20nm；力量程...查看更多 -
主要技術(shù)指標(biāo)：導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量范圍：0.005-0.35W/m.K； 工作溫度范圍：-20-75℃；&...查看更多 -
主要技術(shù)指標(biāo)：微處理器控制設(shè)備的升溫，升溫速率為50℃/h和120℃/h可選；工作溫度：室...查看更多 -
主要技術(shù)指標(biāo)：溫度范圍：-70-600℃；溫度精度：±1℃；爐體冷卻時(shí)間（空氣冷卻）：&l...查看更多